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大容量带状光缆施工中的几个技术问题

大容量带状光缆施工中的几个技术问题 随着全球电信网络向着数字化、宽带化、智能化方向发展,以大容量带状光缆为主要传输媒体的光纤用户接入网正加速建设。而大容量带状光缆与单芯中继光缆在施工技术方面存在一定差异。
 
1大容量带状光缆纵破(简称天窗)技术的应用
 
以往,光缆大多作为中继光缆,需要?#31181;?#25509;头的可能性很小。带状光纤用户接入网的特点是用户交换点多,交换点距离近,从而导致光缆?#31181;?#25509;头点多。为了保持光缆中不需?#31181;?#20809;纤的完整性,在光缆配盘?#20445;?#24448;往采用整盘配置,在需?#31181;?#25509;头位置,余留定量光缆,运用大容量带状光缆纵破(天窗)技术进行?#26377;?#24102;状光缆纵破技术是指在光缆配盘?#20445;?#22312;采用整盘配置的前题下,将大容量带状光缆?#26377;璺种?#25509;头的位置?#27492;?#38656;尺寸,首先将光缆外皮及护套纵向破开,去除光缆外皮及护套?#36745;?#29992;专用纵破刀或手术剪将中心束管纵向被开,去掉中心束管,将所需要?#31181;?#30340;纤带剪断,并与?#31181;?#20809;缆的纤带相连,保留不需?#31181;?#32420;带并进行收容。本技术的应用,?#23665;?#20302;光缆中继?#25991;诮有?#25439;?#27169;?#20943;少光纤发生?#25910;?#30340;概率,减轻施工人员的劳动强度,节约机械使用及?#26377;?#26448;料费用。本技术在?#26412;?#24066;中关村电话局用户光缆网(西南环)试验环中?#29366;?#37319;用并获得成功,1998年在?#26412;?#24066;100个光缆环施工中普遍推广使用,取得了?#28798;?#30340;经济效益和社会效率。
 
2利用熔接机进行环接
 
大容量带状光缆接入网光缆环中,光缆?#31181;?#25509;头较多,为便于光缆?#26377;?#25351;标的双向测试,在光缆?#26377;?#36807;程中,测试点均在局端(在交?#25317;?#25104;端?#26377;保?#27979;试点在各被接交?#25317;悖?#22312;被接光缆的另一端用熔接机将相邻的纤带依次进行环接。上述技术的应用必须严格按下列光缆?#26377;?#26045;工程序进行。(1)局端成瑞?#26377;?(2)主干直通头或主干?#31181;?#22836;接经(由局端的一端开?#23478;?#27425;进行)。(3)主干纵?#21697;种?#22836;?#26377;?(4)各交?#25317;?#25104;瑞接经(主干各接经点指标测试全部合格后进行)。
 
3运用OTDR的刷新栩式,提高?#26377;?#27979;试速度
 
 带状光缆的光?#21496;?#26377;很大的关联性,即?#26377;?#23436;一带后进行?#26377;?#25439;耗测试,若按以往的测试方法(利用OTDR平均出处理进行测试),若测完前11芯指标合格,但第 12?#38745;?#21512;格,则必须将其熔接纤带剪断重新熔接,而导致大量时间耗费在测试上。运用OTDR刷新模式的测试时间短,而OTDR进行平均化处理测试时间长的特点,在各?#26377;?#27979;试过程中,首先采用OTDR的刷新模式测试(波长采用1550nm,可检测出?#26377;?#25439;耗及纤带因弯曲半径过小等原因引起的附加损?#27169;?#21047;新模式测试正常后,将?#26377;?#29076;?#25317;?#29992;热熔管加以保护并收容,再用OTDR进行平均化处理测试,测出两窗口(1550um,1310um)双方向的衰耗指标。 为进一步提高测试速度,由于接入网用户光缆环的距离比较短,在测试接头衰耗数据?#20445;?#22312;ODF架上,采取?#30475;?#20018;接6纤,每带?#33267;?#27425;测试的方法,可在同一测试曲线上读出多个接头点的衰耗数据(可用自动或手动游标?#27573;?#31227;联动功能,测出各?#26377;?#28857;衰?#27169;?#36825;样可以减少测试?#38382;?br />  
4影响?#26377;?#25351;标的因素
 
4.1 影响成端?#26377;?#25351;标的因素
(1)光纤分配架上的原因: a)带/单?#25351;?#21345;槽将带状光纤?#25351;?#25104;单芯光纤时引起光纤微弯而产生附加衰?#27169;?b)相合连接器没有较好的重复性和互换性; C)尾纤端头磨损或不清洁; d)尾纤因绑扎过紧而使纤带挤压变形。
(2)测试软纤FC插头磨损或不清洁。
 (3)纤带收容半径过小。
(4)光纤熔?#25317;憬有?#34928;耗过大或FC插头没有固定紧。
 
4.2 影响光缆?#26377;?#25351;标的因素
(1)光缆开剥过程中造?#19978;?#24102;损伤。
(2)光缆在接头?#24515;?#22266;定过程中固定过紧,造?#19978;?#24102;挤压变形。
(3)光纤的几何、光学?#38382;?#24102;状光缆每带为12芯或24芯,所以其几何、光学?#38382;?#24046;异很大,从而造成?#26377;?#34928;耗大。但是如果在配盘时严格按光缆出厂盘号的?#25215;?#36827;行配盘,则可大大降低接经损耗。
(4)光纤熔?#25317;憬有?#34928;耗大或纤带收容半径过小。
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